HIOKI飞针测试机FA1116_日置——Max.100点/秒的高速测试，针痕深度减半

HIOKI日置飞针测试机FA1116特点·电容法测量,高速光板测试机·Max.100点/秒的高速测试·镀金基板及微细线路基板的测试时间提升30%·搭配新型探针CP1702-01以及最优软着陆控制，实现微细线路的高速测试·通过5aF的高分辨率的电容法测量，可检出单独线路欠缺的微细不良·从一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微细、高精密基板都可检测·最小焊盘尺寸15um·除电容法测量外，标准配备电阻、电感、二极管以及电压测量。
另外通过MLCC测量功能，在JIS规格要求下也可实现电容测量。
·通过丰富的测量功能及选件单元的结合，减少待测基板在现场的停放时间


HIOKI FA1116飞针测试机规格手臂数量   2测试步数   最多40,000步/piece                  300,000步/sheet测试范围   DC测量功能                  电阻:400μΩ~40MΩ                  电容:4μF~400mF                  二极管、三极管(VF):0~25V                  齐纳二极管(VZ):0~25V                  短路:400mΩ~40kΩ                  开路:4Ω~4MΩ                  电压:0~25V
                  AC测量功能                  电阻:100Ω~100MΩ                  电容:10fF~10μF                  电感:10μH~100mH测试时间   Max.100points/s                 (0.1mm移動, 2アーム同時プロービング, 容量測定時)探针可测区域   610W×510D mm可测基板尺寸   厚度:0.1~3.2mm                  外形:50W×50D~610W×510mm                  元件搭载范围:上测10mm(含板厚),下侧:0.1mm基板传送   无自动传送规格电源           AC200V±10%(单相)50/60Hz,3kVA尺寸·重量   D mm,1000kg

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